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IEEE DES TEST COMPUT是IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS期刊的縮寫。IEEE DES TEST COMPUT期刊的出版地是UNITED STATES,。
該刊的年文章數:41,發行周期是Bimonthly,從官網http://ieeexplore.ieee.org/xpl/RecentIssue.jsp?punumber=54上查到本刊的通訊地址是IEEE COMPUTER SOC, 10662 LOS VAQUEROS CIRCLE, PO BOX 3014, LOS ALAMITOS, USA, CA, 90720-1314,投稿地址是https://mc.manuscriptcentral.com/dt-cs。網友對該刊的審稿速度給與的評價是>12周,或約稿,錄用比一般是較易。