這篇電子工程師論文發表了電子產品硬件測試技術的類型和級別，我們國家對電子產品質量有著更高的要求，對于發達國家來說，電子產品的硬件測試工作數量要多余開發人員數量，論文以電子產品的硬件測試技術為切入點，探討了電子產品硬件測試的類型和方式，從而在測試中做到有的放矢。
【關鍵詞】電子工程師論文,電子產品,硬件
眾所周知，電子產品的硬件測試并非只是為了要到問題。而是需要經分析問題的成因及分布特性，輔助項目管理人員找到設計環節所存在的內質弊病，進而予以有針對性的改進。同時，此類分析亦可輔助測試工作者設計出有指向性的檢測方案，因此深化測試的有效性。文章將以論電子產品的硬件測試技術作為切入點，在此基礎上予以深入的探究，相關內容如下所述。
1電子產品硬件測試技術的類型及方式
信號質量測試：信號質量測試即利用測試單板上的相關信號，依附于信號類型的差異，通過不同的指標去衡量信號的質量，同時對信號質量予以分析，進而找到系統設計所存在的弊病。研發工作者依附于已有的信號質量及CASLatency調試，在單板調試過程中完成對單板信號質量的整體測試，在此基礎上予以詳盡的記錄。CASLatency測試：對板內信號CASLatency予以調試，檢測信號實際CASLatency關系是否達到相應的標準，有無滿足器件需求;研究設計余量，分析單板工作的穩定性。
開發工作者依附于既有的信號質量及CASLatency調試，在單板調試過程中完成對單板CL值(包括邏輯外部CL值)的整體測試。功能測試：對電子產品硬件功能測試是依附于硬件設計報告中的功能指標予以測試，檢測設計有無達到要求。
容錯測試通常允許存在少量的功能異常，但嚴格杜絕功能喪失及故障擴散等嚴重問題。經容錯測試，還能夠明確在電子產品的實際應用環節容易出現的問題，找到根源進而以降低損失。因為電子產品基本都要進行長時間的運行，因此要予以長時間的測試。個別器件若設計缺乏合理性，那么很可能在長時間的運行中體現出問題。系統的散熱性能可以在長期大功率運行中得以驗證。長時間的運行能夠找硬件設計錯存在的潛在問題。
長時間測試在予以單元測試及集成測試時也可以找到潛在的問題，對于各功能模塊，我們都需要予以長時間的功能驗證。而驗證周期則要依附于電子產品的實際應用途徑。針對通信類電子產品硬件，測試時間通常要超過七天。而針對各功能模塊的測試，通常需要兩天以上。一致性測試：即把各批次的產品分別取樣，進而予以測試，在此過程中分析產品功能性是否具備一致性。要對三個不同批次的器件電子產品予以測試，而測試的內容包括主要功能測試項目，同時還要測試信號質量與CASLatency。
2電子產品硬件測試的級別
電子產品硬件測試依附于系統的繁瑣性通常分為下述幾個級別：(1)單元測試。針對獨立功能單元予以測試;(2)集成測試。對具有集成性的下屬系統予以測試;(3)系統測試。對完整的系統予以全面的測試。電子產品的硬件測試切勿只局限于一個層次，我們要忽視層次間的界限。層與層之間的配合很容易存在潛在的隱患，舉例說明，單板軟件和硬件邏輯配合、高層軟件和單板軟件的配合都很可能存在問題，因此我們可依附于下屬子系統予以劃分。
3總結
綜上所述，電子產品的硬件測試并非只是為了要到問題。而是需要經分析問題的成因及分布特性，輔助項目管理人員找到設計環節所存在的內質弊病，進而予以有針對性的改進。同時，此類分析亦可輔助測試工作者設計出有指向性的檢測方案，因此深化測試的有效性。因此對于電子產品硬件測試技術的類型，我們需要進行全面的研究，在測試過程中做到有矢可放。
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作者：姚騰飛 張建寧 張毅博
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